PCM-ASI - Analyse de Surfaces et d'Interfaces

PCM - Analyse de Surfaces et d'Interfaces (ASI)

(Techniques d’analyse : ESCA, XRD, Spectrométrie Raman)
Ingénierie et science des matériaux

 

Nos actions consistent à :

  • Conduire des études dans des projets de recherche ANR, européens (7eme PCRDT) au laboratoire PROMES et sur des plateformes nationales.
  • Fournir une expertise dans le cadre de projets de collaboration menés sur des plateaux techniques (ICGM-Montpellier, CIRIMAT-Toulouse…) à la demande de chercheurs, d’industriels et de responsables d'appareillages.
  • Apporter un soutien technique à des équipes de recherche du laboratoire et européennes; former leur personnel aux techniques de caractérisation, aux méthodes analytiques et de modélisation du solide.
  • Monter des projets d'achat ou de développement d’appareillages de caractérisation.

Le but de nos travaux est de :

  • Corréler la microstructure des solides aux propriétés physiques et aux paramètres d'élaboration ou de traitement afin de qualifier un matériau pour une application valorisante.
  • Développer et/ou mettre en œuvre des méthodes analytiques originales en rapport avec l’XPS et l’AES ; concevoir des outils informatiques d’acquisition et de traitement de données.

Notre satisfaction client : (Audit Qualité 2012)

  • Avoir une garantie des résultats et des interprétations.
  • Valoriser les travaux sous forme de publications techniques et scientifiques.
  • Disposer d’appareillages et de méthodes analytiques performantes.
  • Acquérir des compétences techniques et scientifiques dans le domaine de la caractérisation des matériaux.

Demande d'analyses ESCA - XRD

 Fiche de demande d'analyses

 Analyses request form

Send to : Eric.Beche@promes.cnrs.fr

Personnel :

Eric BECHE (Animateur scientifique de PCM), IR CNRS☎ : 33 04 68 30 77 37
  


Glossaire :

ESCA : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
XPS : X-ray Photoelectron Spectroscopy
AES : Auger Electron Spectroscopy
ELS : Electron Loss Spectroscopy
XRD : X-Ray Diffraction