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Service ASI (Analyses de Surfaces et d’Interfaces)
Les techniques et les équipements associés
Spectrométrie de photoélectrons et d’électrons Auger (XPS-AES)*
*Expertises au laboratoire PROMES, mise en œuvre sur des plateformes nationales
Informations recherchées
- Détermination de la composition atomique, profils (z) en profondeur.
- Détermination de la nature des liaisons chimiques et des environnements atomiques
- Caractérisation de la structure électronique des matériaux : hybridation et densité d’état des orbitales atomiques, degrés d’oxydation des éléments
- Calcul des épaisseurs des couches de surface
- Mise en œuvre d’analyses d’extrême surface (analyse angulaire)
sur des matériaux massifs ou des poudres dans des domaines d’applications variées (énergie, aérospatiale, semi-conducteurs, polymères, greffage ou couches d’extrême surface…)
Diffraction des Rayons X (DRX)
Informations recherchées
- Identification de phases cristallines
- Modélisation d’un profil de raie
- Quantification des phases cristallines (méthode Rietveld), d’une phase amorphe
- Détermination d’une orientation préférentielle, d’une taille de grain…
sur des matériaux cristallisés massifs ou poudres dans des domaines d’applications variées (sciences des matériaux et minéralogie, énergie, aérospatiale…)
Spectrométrie Raman
Informations recherchées
- Détermination de la composition, des phases chimiques d’un matériau
- Réalisation d’imagerie 2D (surface) : Mise en œuvre de profils (x, y) et (z)
- Etude de l’évolution des modes de vibration des liaisons chimiques
- Identification de la microstructure de surface
sur des matériaux massifs ou des poudres dans des domaines d’applications variées (sciences des matériaux et minéralogie, énergie, aérospatiale, semi-conducteurs…)
Eric BECHE eric.beche_at_promes.cnrs.fr
☎ : +33 0(4) 68 30 77 37