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Service ASI (Analyses de Surfaces et d’Interfaces)
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Les techniques et les équipements associés
Spectrométrie de photoélectrons et d’électrons Auger (XPS-AES)*
*Expertises au laboratoire PROMES, mise en œuvre sur des plateformes nationales
Informations recherchées
- Détermination de la composition atomique, profils (z) en profondeur.
- Détermination de la nature des liaisons chimiques et des environnements atomiques
- Caractérisation de la structure électronique des matériaux : hybridation et densité d’état des orbitales atomiques, degrés d’oxydation des éléments
- Calcul des épaisseurs des couches de surface
- Mise en œuvre d’analyses d’extrême surface (analyse angulaire)
sur des matériaux massifs ou des poudres dans des domaines d’applications variées (énergie, aérospatiale, semi-conducteurs, polymères, greffage ou couches d’extrême surface…)
Diffraction des Rayons X (DRX)
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![](https://www.promes.cnrs.fr/wp-content/uploads/2021/04/PCM-ASI2.jpg)
Informations recherchées
- Identification de phases cristallines
- Modélisation d’un profil de raie
- Quantification des phases cristallines (méthode Rietveld), d’une phase amorphe
- Détermination d’une orientation préférentielle, d’une taille de grain…
sur des matériaux cristallisés massifs ou poudres dans des domaines d’applications variées (sciences des matériaux et minéralogie, énergie, aérospatiale…)
Spectrométrie Raman
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![](https://www.promes.cnrs.fr/wp-content/uploads/2021/04/PCM-ASI4.jpg)
Informations recherchées
- Détermination de la composition, des phases chimiques d’un matériau
- Réalisation d’imagerie 2D (surface) : Mise en œuvre de profils (x, y) et (z)
- Etude de l’évolution des modes de vibration des liaisons chimiques
- Identification de la microstructure de surface
sur des matériaux massifs ou des poudres dans des domaines d’applications variées (sciences des matériaux et minéralogie, énergie, aérospatiale, semi-conducteurs…)
Eric BECHE eric.beche_at_promes.cnrs.fr
☎ : +33 0(4) 68 30 77 37